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2024-12-04
同惠LCR數字電橋TH2840B與TH2840A作為兩款先進的電子測量儀器,各自具備獨特的特點和優勢。以下是對這兩款儀器的詳細對比,以便用戶更好地了解它們之間的異同,從而做出更適合自己的選擇。
一、外觀與配置
1、顯示屏
TH2840A與TH2840B均配備了10.1英寸的電容式觸摸屏,分辨率為1280x800。這種大屏幕設計不僅使得操作界麵更加直觀清晰,還能夠在同一屏幕上顯示更多的信息,如四個測量參數、分選參數、分選結果以及功能選擇等,避免了頻繁切換屏幕的繁瑣操作。
2、係統
兩款儀器都采用了Linux底層係統,支持中英文操作界麵,並內置了使用說明及幫助文檔,使得用戶能夠更加方便地上手操作。
3、接口
TH2840A與TH2840B均支持鍵盤、鼠標以及LAN接口的連接,進一步提升了操作的便捷性和靈活性。
二、測量性能
1、測試頻率
TH2840A的測試頻率範圍為20Hz至500kHz,而TH2840B的測試頻率範圍則擴展至20Hz至2MHz。這意味著TH2840B在高頻測試方麵更具優勢,能夠滿足更多類型電子元件的測試需求。
2、測量精度
兩款儀器都采用了先進的測量技術,能夠提供高達0.05%的測量精度。這種高精度測量能力使得用戶能夠對電感、電容和電阻等元件進行準確的測試,從而確保電子設備的性能和可靠性。
3、測量模式
TH2840A與TH2840B都支持點測、列表掃描以及圖形掃描三種測試方式。其中,列表掃描功能允許用戶設置多達201個測量點,每個點都可以設置平均次數和進行單獨分選。而圖形掃描功能則支持4軌跡任意選擇,並支持1/2/4分屏顯示,方便用戶對測試結果進行更加直觀的分析和比較。
4、測量參數
兩款儀器都支持四參數測量,包括電容(Cp/Cs)、電感(Lp/Ls)、電阻(Rp/Rs)以及阻抗(Z)、導納(Y)、相位角(θ)等參數。同時,它們還提供了豐富的數學運算功能,如與標稱值的絕對偏差Δ、與標稱值的百分比偏差Δ%等,以及等效方式(串聯、並聯)的選擇,進一步滿足了用戶的多樣化需求。
三、功能特點
1、高穩定性和一致性
TH2840A與TH2840B都配備了14個量程配置,以確保在測量不同範圍的元件時能夠保持高穩定性和一致性。這種設計使得儀器在長時間使用過程中能夠保持穩定的測量性能,從而提高測試的準確性。
2、高功率
兩款儀器的信號電平都達到了20V/100mA,內置直流偏置為±40V/100mA,內置偏流源為2A(TH2840B的某些型號可能標注為內置電流源2A,實際功能相同)。這些高功率配置使得儀器在測試大容量或高阻抗元件時能夠保持穩定的輸出,從而提高測試的可靠性和準確性。
3、高速度
TH2840A與TH2840B都采用了雙CPU架構,一個CPU負責測試處理數據,另一個CPU負責顯示數據。這種設計使得儀器能夠實現高速測試,最快測試速度可達1800次/秒(即0.56ms/次)。高速測試能力在自動化產線中能夠極大地提高效率,同時也能夠滿足部分需要實時采樣體現被測件瞬態變化特征的應用需求。
4、高兼容性
兩款儀器都支持SCPI/MODBUS指令集,並兼容KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A等主流儀器。這種高兼容性使得用戶能夠更加方便地將它們集成到現有的測試係統中,從而實現更加高效和準確的測試。
四、應用領域
1、電子元件測試
TH2840A與TH2840B都廣泛應用於電子元件的測試領域,包括電容器、電感器、電阻器、磁芯、壓電器件、變壓器以及芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。這些儀器能夠幫助企業在生產環節中進行嚴格的質量檢測,確保每個元件都符合標準,從而提高產品的整體質量。
2、半導體元件測試
除了電子元件測試外,兩款儀器還可以用於半導體元件的測試領域,如LED驅動集成電路寄生參數測試分析、變容二極管的C-VDC特性測試以及晶體管或集成電路的寄生參數分析等。這些測試對於半導體材料的研發和生產具有重要意義。
3、其他應用
此外,TH2840A與TH2840B還可以用於印製電路板、繼電器、開關、電纜以及電池等元件的阻抗評估;塑料、陶瓷以及其他材料的介電常數和損耗角評估;鐵氧體、非晶體以及其他磁性材料的導磁率和損耗角評估;以及半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性測試等。這些廣泛的應用領域使得兩款儀器成為了工程師和電子愛好者不可或缺的測量工具。
五、總結
同惠LCR數字電橋TH2840ATH2840A與TH2840B在外觀與配置、測量性能、功能特點以及應用領域等方麵都表現出色。兩款儀器都具備高精度測量、多種測量模式、高穩定性和一致性以及高速度等特點,能夠滿足不同用戶的多樣化需求。同時,它們還具備廣泛的兼容性,能夠方便地集成到現有的測試係統中。在選擇時,用戶可以根據自己的實際需求和預算來做出更加合適的選擇。
文章來源數字電橋
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