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艾德克斯IT2800係列高精度源表6種型號參數對比

2024-12-30

艾德克斯(ITECH)IT2801、IT2805、IT2806以及它們的R版本(IT2801R、IT2805R、IT2806R)高精度源表是專為半導體功率器件、分立半導體器件、無源器件、光電器件、微功耗量測以及材料研究等領域設計的高性能台式源測量單元(Source Measure Unit,簡稱SMU)。以下是這些高精度源表的詳細參數對比:

 

一、艾德克斯IT2800高精度源表6種型號基本規格

型號

電壓範圍

電流範圍

功率範圍

分辨率(Source/Measure)

精度(示例範圍)

IT2801

1000V

1A

20W

100nV/1pA

0.015%+300uV (200mV range) / 0.025%+300pA (1uA range)

IT2805

200V

1.5A

20W

1uV/100fA

0.015%+300uV (200mV range) / 0.025%+300pA (1uA range)(注:此為示例精度,具體可能有所不同)

IT2806

200V

3A DC, 10A Pulse

20W

100nV/10fA

0.015%+300uV (200mV range) / 0.06%+100pA (100nA range)

IT2801R

±1000V

±10A(注:部分信息可能表明為±1A,但此處以±10A為準,具體需參考官方最新數據)

±20W

最高可達10fA/100nV

-

IT2805R

±200V

±1.5A

±20W

最高可達10fA/100nV

-

IT2806R

-

-

-

最高可達10fA/100nV

-

 

二、功能特性

1、四象限輸出及量測功能:

所有型號均支持四象限輸出及量測功能,即可以在正電壓/正電流、正電壓/負電流、負電壓/正電流和負電壓/負電流四個象限內進行輸出和測量。

 

2、高分辨率與高采樣率:

所有型號均具備高分辨率和高采樣率,能夠準確測量和輸出微小的電流和電壓信號。

分辨率最高可達10fA/100nV,采樣率最高可達10us(或更高,具體取決於型號和配置)。

 艾德克斯IT2805.jpg


3、多種顯示模式:

所有型號均配備5英寸觸摸顯示屏,提供直觀的圖形化和數字化顯示模式。

支持Graph view、Scope view及Record view三種圖形顯示模式,方便用戶查看和分析測試結果。

 

4、SWEEP掃描模式:

所有型號均支持SWEEP掃描模式,包括Linear(線性)、Log(對數)、Pulsed Linear(脈衝線性)、Pulsed Log(脈衝對數)及LIST(列表)等多種掃描方式。

這些掃描模式使得用戶能夠更靈活地設置測試條件,提高測試效率。

 

5、內置測量功能與數據處理:

所有型號均內置電阻、功率和Math等測量功能,使得用戶可以直接在源表上進行各種測量計算。

支持數據存儲和導入功能,用戶可以通過USB接口將測試數據保存到計算機中,或導入測試配置文件進行係統升級等操作。

 

6、同步與並行測試能力:

部分型號(如IT2800係列)支持多達16台設備同步功能,具備並行測試能力。

這意味著用戶可以同時連接多台源表進行測試,從而大大提高測試效率。

 

三、IT2800高精度源表接口與通信

1、USB接口:

所有型號均配備USB接口,用於數據傳輸、測試配置文件導入以及係統升級等操作。

部分型號可能還支持USB 2.0或更高版本的接口標準。

 

2、LAN接口:

部分型號(如IT2805、IT2806等)配備LAN接口,支持遠程控製和數據傳輸等功能。

 

3、Digital IO接口:

所有型號均配備Digital IO接口,用於與其他數字設備進行通信和控製。

 

4、GPIB接口(選配):

部分型號(如IT2801、IT2805、IT2806等)可選配GPIB接口卡,實現與計算機的遠程通信和控製。

 

四、其他特性

1、電池模擬器功能:

所有型號均內置電池模擬器功能,可以幫助工程師更好地研究電池特性對DUT功耗及性能可靠性的影響。

 

2、電子負載功能:

所有型號均具備電子負載功能,可以模擬各種負載條件,用於測試電源或電源管理係統的性能。

 

3、半導體參數測試軟件兼容性:

所有型號均可搭配ITECH SPS5000係列半導體參數測試軟件實現高效的半導體器件特性表征測試。

 

五、總結

艾德克斯IT2801、IT2805、IT2806以及它們的R版本高精度源表在基本規格、功能特性、接口與通信以及其他特性方麵均表現出色。這些源表不僅具備高精度、多功能性和高效測試能力等特點,還廣泛應用於半導體功率器件測試、分立半導體器件測試、無源器件測試、光電器件測試、微功耗量測以及材料研究等領域。用戶可以根據自己的測試需求和預算選擇合適的型號和配置。同時,建議用戶在購買前仔細閱讀產品手冊和官方數據,以確保所選產品符合自己的測試需求。

文章來源測試儀器

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